Center for
Analytical Instrumentation
CHIBA UNIV.

利用料金

利用形態と利用区分

2018年6月1日現在
機器名 機種名 利用形態と利用区分
○:利用者測定/★:依頼測定 
学内  学外学術  学外一般 
核磁気共鳴装置(NMR)
JEOL, JNM-ECS400(A) ○  -  - 
JEOL, JNM-ECS400(B)
JEOL, JNM-ECX400
○★  ○★  ○★ 
JEOL, JNM-ECA500 ○  ○  ○ 
JEOL, JNM-ECZ600 ○★  ★  ★ 
パルスNMR JEOL, JNM-MU25 ○  -  - 
質量分析装置(MS) JEOL, JMS-T100GCV AccuTOF
Thermo Fisher, Exactive
○★  ○★  ○★ 
Thermo Fisher, LTQ Orbitrap XL ★  ★  ★ 
X線回折装置(XRD) Bruker, SMART APEXII
Bruker, SMART APEXII ULTRA
Bruker, D8 ADVANCE
○★  ○★  ○★ 
元素分析装置(EA) EAI, CE-440F
Perkin Elmer, PE2400II
★  ★  ★ 
電界放射型透過電子顕微鏡(FE-TEM) JEOL, JEM-2100F ○★  ○★  ○★ 
走査型電子顕微鏡(SEM) JEOL, JSM-6510A ○  ○  ○ 
顕微分光光度計 日本分光, MSV-370 ○  ○  ○ 
顕微赤外分光光度計(顕微IR) 日本分光, FT/IR-4200ST+IRT-5000 ○  ○  ○ 
紫外可視近赤外分光光度計 日本分光, V-670DS ○  ○  ○ 
(休止中)蛍光寿命測定装置 IBH, 5000U-CS ○  ○  ○ 
発光量子収率測定装置 浜松ホトニクス, C11347-01 ○  ○  ○ 
ゼータ電位・粒径測定装置 大塚電子, ELSZ-1000ZSCK ○  ○  ○ 
分析HPLC 島津, LC-20AD ○  -  - 
精密イオンポリシング装置 Gatan, Model 691 ○  -  - 
金イオンコータ JEOL, JFC-1100 ○  ○  ○ 
ソフトプラズマエッチング装置 メイワフォーシス, SEDE-GE ○  ○  ○ 
ミクロ電子天びん Mettler Toledo, XP6V
Mettler Toledo, XPR2V
○  ○  ○ 
グローブボックス グローブボックスジャパン, GBJF080R ○  ○  ○ 
電子スピン共鳴装置(ESR) JEOL, JES-TE200 ○  ○  ○ 
電界放射型走査電子顕微鏡(FE-SEM) JEOL, JSM-6335F ○  ○  ○ 
オスミウムコータ メイワフォーシス, Neoc-ST ○  ○  ○ 
透過型電子顕微鏡(TEM) 日立ハイテク, H-7650 ○  ○  ○ 
薄膜X線回折装置 PANalytical, X'Pert MRD ○★  -  - 
■その他の設備
リサイクル分取HPLC 日本分析工業, LC-9210II NEXT
凍結乾燥機 東京理化, FDU-2200
遠心濃縮機 トミー, CC-105
純水製造装置 ELGA, PURELAB Plus 1
急速凍結試料作製装置 Leica, EM-CPC

利用料金表(学内利用 利用者測定)

2018年6月1日現在
機器名 機種・項目 単位 料金(円)
全機器共通 ライセンス試験料

0.5 hr

500

測定サポート料

0.5 hr

500

核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(A) 基本利用料 0.25 hr

250
ECS400(B) 基本利用料

0.5 hr

500
ECX400,
ECA500
基本利用料 0.5 hr

500
長時間利用料(24時間毎に)

9~24 hr

9,000
ECZ600 基本利用料 0.5 hr 600
長時間利用料(24時間毎に)

9~24 hr

10,800
パルスNMR MU25 基本利用料 1 hr 400
質量分析装置(MS) AccuTOF,
Exactive
LC,GC基本利用料 1 hr 1,200
LC,GC長時間利用料(8時間毎加算) 8~16 hr 4,000
X線回折装置(XRD) APEXII 基本利用料 1 hr 1,200
年間利用料 1講座・年 100,000
ULTRA 基本利用料 1 hr 1,400
年間利用料 1講座・年 120,000
D8 ADVANCE 基本利用料 0.5 hr 400
共通 CSD年間利用料 1講座・年 60,000
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
年間登録料 1 人・年 150,000
年間登録料(同一講座2人目以降) 1 人・年 50,000
基本利用料(登録有) 1 day 5,000
低温測定利用料(登録有) 1 day 7,500
Cryo-TEM利用料(登録有) 1 day 10,000
基本利用料(登録無) 1 day 30,000
走査型電子顕微鏡(SEM) 基本利用料 0.5 hr 300
EDS利用料 0.5 hr 500
顕微分光光度計 基本利用料 0.5 hr 400
顕微赤外分光光度計(顕微IR) 基本利用料 0.5 hr 400
紫外可視近赤外分光光度計 基本利用料 0.5 hr 300
蛍光寿命測定装置 基本利用料 0.5 hr 300
発光量子収率測定装置 基本利用料 0.5 hr 400
ゼータ電位・粒径測定装置 基本利用料 0.5 hr 400
固体表面測定標準試料使用料 1 回 3,000
分析HPLC 基本利用料 1 hr 200
精密イオンポリシング装置 基本利用料 24 hr 500
金イオンコータ 基本利用料 1 hr 200
ソフトプラズマエッチング装置 基本利用料 1 hr 200
ミクロ電子天びん 基本利用料(元素分析以外) 0.5 hr 100
グローブボックス 基本利用料(元素分析以外) 0.5 hr 300
電子スピン共鳴装置(ESR) 基本利用料 0.5 hr 300
電界放射型走査電子顕微鏡
(FE-SEM)
基本利用料 0.5 hr 600
オスミウムコータ 基本利用料 1 hr 400
透過型電子顕微鏡(TEM) 基本利用料 24 hr 4,000
使用取扱説明会受講料 1 回 30,000
薄膜X線回折装置(薄膜XRD) 基本利用料 1 hr 1,000

利用料金表(学内利用 依頼測定)

2018年6月1日現在
機器名 機種・項目 単位 料金(円)
全機器共通 測定サポート料

0.5 hr

500
核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(B),
ECX400,
ECZ600
依頼測定料(1H, 19F)

1 件

1,000
依頼測定料(13C)

1 件

3,000
依頼測定料(溶液特殊)

1 件

10,000
依頼測定料(固体)

1 件

20,000
依頼試料調製料

1 件

2,000
質量分析装置(MS) AccuTOF,
Exactive
依頼測定料(精密質量測定) 1 件 1,200
依頼測定料(イオン化法変更再測定) 1 件 500
依頼測定料(FD,FI,EI通常測定) 1 件 600
Orbitrap 前処理ライセンス講習料 1 人 5,000
依頼測定料(登録無,タンパク質同定) 1 件 15,000
依頼測定料(登録有,タンパク質同定) 1 件 3,000
年間登録料 1講座・年 150,000
X線回折装置(XRD) APEXII, ULTRA 依頼測定料 1 件 40,000
D8 ADVANCE 依頼測定料 1 hr 2,400
元素分析装置(EA) 依頼測定料(通常試料) 1 回 1,100
依頼測定料(特殊試料) 1 回 1,600
依頼測定料(グローブボックス利用) 1 件(2回) 4,400
依頼測定料(秤量依頼の場合) 各上記2倍
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
依頼測定料 1 day 60,000
Cryo-TEM依頼測定料 1 day 120,000
薄膜X線回折装置(薄膜XRD) 依頼測定料 1 hr 2,000
学内利用の料金です。学外利用とは利用できる機器や料金が異なりますので、ご注意下さい。 ※その他、詳細な料金規定については、共用機器センターにお問い合わせ下さい。
(cai-network@chiba-u.jp ※「@」マークを半角に変更して下さい)

利用料金表(学外学術利用 利用者測定)

2018年6月1日現在
機器名 機種・項目 単位 料金(円)
全機器共通 ライセンス試験料

0.5 hr

800
測定サポート料

0.5 hr

800
核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(B) 基本利用料

0.5 hr

700
ECX400,
ECA500
基本利用料

0.5 hr

700
長時間利用料(24時間毎に)

9~24 hr

12,600
質量分析装置(MS) AccuTOF,
Exactive
LC,GC基本利用料 1 hr 1,800
LC,GC長時間利用料(8時間毎加算) 8~16 hr 6,000
X線回折装置(XRD) APEXII 基本利用料 1 hr 1,800
ULTRA 基本利用料 1 hr 2,100
D8 ADVANCE 基本利用料 0.5 hr 600
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
年間登録料 1 人・年 225,000
年間登録料(同一講座2人目以降) 1 人・年 75,000
基本利用料(登録有) 1 day 7,500
低温測定利用料(登録有) 1 day 12,000
基本利用料(登録無) 1 day 45,000
走査型電子顕微鏡(SEM) 基本利用料 0.5 hr 500
EDS利用料 0.5 hr 800
顕微分光光度計 基本利用料 0.5 hr 600
顕微赤外分光光度計(顕微IR) 基本利用料 0.5 hr 600
紫外可視近赤外分光光度計 基本利用料 0.5 hr 500
蛍光寿命測定装置 基本利用料 0.5 hr 500
発光量子収率測定装置 基本利用料 0.5 hr 600
ゼータ電位・粒径測定装置 基本利用料 0.5 hr 600
固体表面測定標準試料使用料 1 回 4,500
金イオンコータ 基本利用料 1 hr 300
ソフトプラズマエッチング装置 基本利用料 1 hr 300
ミクロ電子天びん 基本利用料(元素分析以外) 0.5 hr 200
グローブボックス 基本利用料(元素分析以外) 0.5 hr 500
電子スピン共鳴装置(ESR) 基本利用料 0.5 hr 500
電界放射型走査電子顕微鏡
(FE-SEM)
基本利用料 0.5 hr 900
オスミウムコータ 基本利用料 1 hr 600
透過型電子顕微鏡(TEM) 基本利用料 24 hr 6,000
使用取扱説明会受講料 1 回 45,000

利用料金表(学外学術利用 依頼測定)

2018年6月1日現在
機器名 機種・項目 単位 料金(円)
全機器共通 測定サポート料

0.5 hr

800
核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(B),
ECX400,
ECZ600
依頼測定料(1H, 19F)

1 件

1,500
依頼測定料(13C)

1 件

4,500
依頼測定料(溶液特殊)

1 件

15,000
依頼測定料(固体)

1 件

30,000
依頼試料調製料

1 件

3,000
質量分析装置(MS) AccuTOF,
Exactive
依頼測定料(精密質量測定) 1 件 1,800
依頼測定料(イオン化法変更再測定) 1 件 700
依頼測定料(FD,FI,EI通常測定) 1 件 900
Orbitrap 依頼測定料(タンパク質同定) 1 件 30,000
X線回折装置(XRD) APEXII, ULTRA 依頼測定料 1 件 50,000
D8 ADVANCE 依頼測定料 1 hr 3,600
元素分析装置(EA) 依頼測定料(通常試料) 1 回 1,700
依頼測定料(特殊試料) 1 回 2,400
依頼測定料(秤量依頼の場合) 各上記2倍
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
依頼測定料 1 day 90,000
学外学術利用(他大学・公的研究機関等)の料金です。学内および学外一般利用(企業等)とは利用できる機器や料金が異なりますので、ご注意下さい。 ※その他、詳細な料金規定については、共用機器センターにお問い合わせ下さい。
(cai-network@chiba-u.jp ※「@」マークを半角に変更して下さい)

利用料金表(学外一般利用 利用者測定)

2018年6月1日現在
機器名 機種・項目 単位 料金(円)
全機器共通 ライセンス試験料

0.5 hr

2,500
測定サポート料

0.5 hr

2,500
核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(B) 基本利用料

0.5 hr

2,000
ECX400,
ECA500
基本利用料

0.5 hr

2,000
長時間利用料(24時間毎に)

9~24 hr

40,000
質量分析装置(MS) AccuTOF,
Exactive
LC,GC基本利用料 1 hr 7,500
X線回折装置(XRD) APEXII 基本利用料 1 hr 6,000
ULTRA 基本利用料 1 hr 7,000
D8 ADVANCE 基本利用料 0.5 hr 2,000
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
年間登録料 1 人・年 300,000
年間登録料(同一部署2人目以降) 1 人・年 100,000
基本利用料 1 day 40,000
低温測定利用料 1 day 60,000
走査型電子顕微鏡(SEM) 基本利用料 0.5 hr 1,500
EDS利用料 0.5 hr 2,500
顕微分光光度計 基本利用料 0.5 hr 2,000
顕微赤外分光光度計(顕微IR) 基本利用料 0.5 hr 2,000
紫外可視近赤外分光光度計 基本利用料 0.5 hr 1,500
蛍光寿命測定装置 基本利用料 0.5 hr 2,000
発光量子収率測定装置 基本利用料 0.5 hr 2,000
ゼータ電位・粒径測定装置 基本利用料 0.5 hr 2,000
固体表面測定標準試料使用料 1 回 15,000
金イオンコータ 基本利用料 1 hr 1,000
ソフトプラズマエッチング装置 基本利用料 1 hr 1,000
ミクロ電子天びん 基本利用料(元素分析以外) 0.5 hr 500
グローブボックス 基本利用料(元素分析以外) 0.5 hr 1,500
電子スピン共鳴装置(ESR) 基本利用料 0.5 hr 1,500
電界放射型走査電子顕微鏡
(FE-SEM)
基本利用料 0.5 hr 3,000
オスミウムコータ 基本利用料 1 hr 2,000
透過型電子顕微鏡(TEM) 基本利用料 24 hr 20,000
使用取扱説明会受講料 1 回 150,000

利用料金表(学外一般利用 依頼測定)

2018年6月1日現在
機器名 機種・項目 単位 料金(円)
全機器共通 測定サポート料

0.5 hr

2,500
核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(B),
ECX400,
ECZ600
依頼測定料(1H, 19F)

1 件

5,000
依頼測定料(13C)

1 件

15,000
依頼測定料(溶液特殊)

1 件

50,000
依頼測定料(固体)

1 件

80,000
依頼試料調製料

1 件

10,000
質量分析装置(MS) AccuTOF,
Exactive
依頼測定料(精密質量測定) 1 件 7,500
依頼測定料(イオン化法変更再測定) 1 件 1,000
依頼測定料(FD,FI,EI通常測定) 1 件 4,000
Orbitrap 依頼測定料(タンパク質同定) 1 件 75,000
X線回折装置(XRD) APEXII, ULTRA 依頼測定料 1 件 200,000
D8 ADVANCE 依頼測定料 1 hr 12,000
元素分析装置(EA) 依頼測定料(通常試料) 1 回 5,500
依頼測定料(特殊試料) 1 回 8,000
依頼測定料(秤量依頼の場合) 各上記2倍
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
依頼測定料 1 day 200,000
学外一般利用(企業等)の料金です。学内および学外学術利用(他大学・公的研究機関等)とは利用できる機器や料金が異なりますので、ご注意下さい。 ※その他、詳細な料金規定については、共用機器センターにお問い合わせ下さい。
(cai-network@chiba-u.jp ※「@」マークを半角に変更して下さい)