Center for
Analytical Instrumentation
CHIBA UNIV.

利用料金

利用対象と形態

2017年10月2日現在
機器名 機種名 利用対象と形態
O:学内のみ
☆:学術利用可
★:一般利用可
利用者測定 依頼測定
共用機器センター
核磁気共鳴装置(NMR) JEOL, JNM-ECA500
JEOL, JNM-ECX400
JEOL, JNM-ECS400(B)
JEOL, JNM-ECS400(A)
JEOL, JNM-MU25
O O
質量分析装置(MS) JEOL, JMS-T100GCV AccuTOF
Thermo Fisher, Exactive
Thermo Fisher, LTQ Orbitrap XL -
X線回折装置(XRD) Bruker, SMART APEX II
Bruker, SMART APEX II ULTRA
Bruker, D8 ADVANCE
元素分析装置(EA) Perkin Elmer, PE2400II
EAI, CE-440F
-
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
JEOL, JEM-2100F
走査型電子顕微鏡(SEM) JEOL, JSM-6510A -
顕微分光光度計 日本分光, MSV-370 -
蛍光寿命測定装置 IBH, 5000U-CS -
発光量子収率測定装置 浜松ホトニクス, C11347-01 -
ゼータ電位・粒径測定装置 大塚電子, ELSZ-1000ZSCK -
顕微赤外分光光度計(顕微IR) 日本分光, FT/IR-4200ST+IRT-5000 -
紫外可視近赤外分光光度計 日本分光, V-670DS -
精密イオンポリシング装置 Gatan, Model 691 O -
金イオンコータ JEOL, JFC-1100 -
ソフトプラズマエッチング装置 メイワフォーシス, SEDE-GE -
理学研究院
電子スピン共鳴装置(ESR) JEOL, JES-TE200 -
ベンチャービジネスラボラトリー
電界放射型走査電子顕微鏡
(FE-SEM)
JEOL, JSM-6335F -
オスミウムコータ メイワフォーシス, Neoc-ST -
透過型電子顕微鏡(TEM) 日立ハイテク, H-7650 -
薄膜X線回折装置 PANalytical,X'Pert MRD O O
■その他の設備
元素分析室 電子ミクロ天秤(Sartorius, MC5・Mettler Toledo, XP6V)
フロー型グローブボックス(グローブボックスジャパン, GBJF080R)
共同実験室等 純水製造装置(ELGA, PURELAB Plus 1)
凍結乾燥機(東京理化, FDU-2200)
遠心濃縮機(トミー, CC-105)
リサイクル分取HPLC(日本分析工業, LC-9210II NEXT)
分析HPLC(島津, LC-20AD)
急速凍結試料作製装置(Leica, EM-CPC)

利用料金表(学内利用者用)

2017年10月2日現在
機器名 利用機種・利用内容 単位 料金(円)
共用機器センター
核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(A,B)
ECX400
ECA500
基本利用料

0.5h

400
長時間利用料(24時間毎に) 10~24 hr 8,000
依頼測定料   各上記3倍
測定サポート料 1 件 2,000
ECX400 固体年間利用料 1講座・年 1,600,000
MU25 基本利用料 1 hr 300
質量分析装置(MS) AccuTOF
Exactive
LC,GC基本利用料 1 hr 1,200
LC,GC長時間利用料(8時間毎に) 8~16 hr 4,000
依頼測定料(精密質量測定) 1 件 1,200
依頼測定料(イオン化法変更再測定) 1 件 500
依頼測定料(FD,FI,EI通常測定) 1 件 600
Orbitrap 前処理ライセンス講習料 1 人 5,000
会員測定料(タンパク質同定) 1 件 2,000
一般測定料(タンパク質同定) 1 件 10,000
年会費 1講座・年 100,000
X線回折装置(XRD) APEXII
ULTRA
APEXII基本利用料 1 hr 1,000
ULTRA基本利用料 1 hr 1,200
測定サポート料 1 件 5,000
APEXII年間利用料 1講座・年 80,000
ULTRA年間利用料 1講座・年 100,000
CSD年間利用料 1講座・年 50,000
依頼測定料 1 件 35,000
D8 ADVANCE 基本利用料 0.5 hr 400
長時間利用料 10~24 hr 8,000
依頼測定料   各上記3倍
測定サポート料 1 件 5,000
元素分析装置(EA) 依頼測定料(通常試料) 1 回 1,000
依頼測定料(特殊試料) 1 回 1,500
依頼測定料(グローブボックス利用) 1 件 4,000
依頼測定料(通常試料、秤量依頼) 1 回 2,000
依頼測定料(特殊試料、秤量依頼) 1 回 3,000
依頼測定料(グローブボックス利用、秤量依頼) 1 件 8,000
ミクロ電子天びん 基本利用料(元素分析以外) 1 hr 100
グローブボックス 基本利用料(元素分析以外) 1 hr 500
走査型電子顕微鏡(SEM) 基本利用料 0.5 hr 300
EDS利用料 0.5 hr 500
長時間利用料(Cryo-SEM用)(24時間毎に) 24hr 3,000
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
年間登録料 1 人・年 150,000
年間登録料(同一講座2人目以降) 1 人・年 50,000
基本利用料(登録有) 1 day 5,000
低温測定利用料(登録有) 1 day 7,500
Cryo-TEM利用料(登録有) 1 day 10,000
基本利用料(登録無) 1 day 30,000
測定サポート料 1 件 10,000
依頼測定料 1 day 60,000
Cryo-TEM依頼測定料 1 day 120,000
顕微分光光度計 基本利用料 0.5 hr 400
蛍光寿命測定装置 基本利用料 0.5 hr 300
発光量子収率測定装置 基本利用料 0.5 hr 300
ゼータ電位・粒径測定装置 基本利用料 0.5 hr 300
固体表面測定料 0.5 hr 600
固体表面測定ライセンス試験料 1 回 3,000
顕微赤外分光光度計(顕微IR) 基本利用料 0.5 hr 400
紫外可視近赤外分光光度計 基本利用料 0.5 hr 200
精密イオンポリシング装置 基本利用料 24 hr 500
金イオンコータ 基本利用料 1 hr 200
ソフトプラズマエッチング装置 基本利用料 1 hr 200
理学研究院
電子スピン共鳴装置(ESR) 基本利用料 0.5h 300
ベンチャービジネスラボラトリー
電界放射型走査電子顕微鏡
(FE-SEM)
基本利用料 0.5h 600
オスミウムコータ 基本利用料 1 hr 400
透過型電子顕微鏡(TEM) 基本利用料 1 day 3,000
測定サポート料 1 件 5,000
使用取扱説明依頼料 1 回 30,000
薄膜X線回折装置(薄膜XRD) 基本利用料 1 hr 1,000
長時間利用(24時間毎に) 8~24hr 8,000
測定サポート料 1 件 2,000
依頼測定料 各上記2倍
※学内利用の料金です。学外学術利用(他大学)および学外一般利用(企業等)とは、利用できる機器や料金が異なりますので、ご注意下さい。 ※その他、詳細な料金規定については、各機器管理者にお問い合わせ下さい。

利用料金表(学外学術利用者用)

2017年10月2日現在
機器名 利用機種・利用内容 単位 料金(円)
共用機器センター
核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(B)
ECX400
ECA500
基本利用料

0.5h

400
長時間利用料(24時間毎に) 10~24 hr 8,000
依頼測定料   各上記3倍
測定サポート料 1 件 2,000
ECX400 固体年間利用料 1講座・年 1,600,000
質量分析装置(MS) AccuTOF
Exactive
LC,GC基本利用料 1 hr 1,200
LC,GC長時間利用料(8時間毎に) 8~16 hr 4,000
依頼測定料(精密質量測定) 1 件 1,200
依頼測定料(イオン化法変更再測定) 1 件 500
依頼測定料(FD,FI,EI通常測定) 1 件 600
測定サポート料 1 件 500
Orbitrap 一般測定料(タンパク質同定) 1 件 20,000
X線回折装置(XRD) APEXII
ULTRA
APEXII基本利用料 1 hr 1,000
ULTRA基本利用料 1 hr 1,200
測定サポート料 1 件 5,000
APEXII年間利用料 1講座・年 80,000
ULTRA年間利用料 1講座・年 100,000
依頼測定料 1 件 35,000
D8 ADVANCE 基本利用料 0.5 hr 400
長時間利用料 10~24 hr 8,000
依頼測定料   各上記3倍
測定サポート料 1 件 5,000
元素分析装置(EA) 依頼測定料(通常試料) 1 回 1,000
依頼測定料(特殊試料) 1 回 1,500
依頼測定料(通常試料、秤量依頼) 1 回 2,000
依頼測定料(特殊試料、秤量依頼) 1 回 3,000
ミクロ電子天びん 基本利用料(元素分析以外) 1 hr 100
グローブボックス 基本利用料(元素分析以外) 1 hr 500
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
年間登録料 1 人・年 150,000
年間登録料(同一講座2人目以降) 1 人・年 50,000
基本利用料(登録有) 1 day 5,000
低温測定利用料(登録有) 1 day 7,500
基本利用料(登録無) 1 day 30,000
測定サポート料 1 件 10,000
依頼測定料 1 day 60,000
走査型電子顕微鏡(SEM) 基本利用料 0.5 hr 300
EDS利用料 0.5 hr 500
長時間利用料(Cryo-SEM用)(24時間毎に) 24hr 3,000
顕微分光光度計 基本利用料 0.5 hr 400
蛍光寿命測定装置 基本利用料 0.5 hr 300
発光量子収率測定装置 基本利用料 0.5 hr 300
ゼータ電位・粒径測定装置 基本利用料 0.5 hr 300
固体表面測定料 0.5 hr 600
固体表面測定ライセンス試験料 1 回 3,000
顕微赤外分光光度計(顕微IR) 基本利用料 0.5 hr 400
紫外可視近赤外分光光度計 基本利用料 0.5 hr 200
金イオンコータ 基本利用料 1 hr 200
ソフトプラズマエッチング装置 基本利用料 1 hr 200
理学研究院
電子スピン共鳴装置(ESR) 基本利用料 0.5h 300
ベンチャービジネスラボラトリー
電界放射型走査電子顕微鏡
(FE-SEM)
基本利用料 0.5h 600
オスミウムコータ 基本利用料 1 hr 400
透過型電子顕微鏡
(TEM)
基本利用料 1 day 3,000
測定サポート料 1 件 5,000
使用取扱説明依頼料 1 回 30,000
※学外学術利用(大学・公的研究機関等)の料金です。学内利用および学外一般利用(企業等)とは、利用できる機器や料金が異なりますので、ご注意下さい。 ※その他、詳細な料金規定については、各機器管理者にお問い合わせ下さい。

利用料金表(学外一般利用者用)

2017年10月2日現在
機器名 利用機種・利用内容 単位 料金(円)
共用機器センター
核磁気共鳴装置(NMR) ECS400(B)
ECX400
ECA500
基本利用料

0.5 hr

2,000
長時間利用料(24時間毎に) 10~24 hr 40,000
依頼測定料   各上記3倍
測定サポート料 1 件 10,000
質量分析装置(MS) AccuTOF
Exactive
LC,GC基本利用料 1 hr 7,500
依頼測定料(精密質量測定) 1 件 7,500
依頼測定料(イオン化法変更再測定) 1 件 1,000
依頼測定料(FD,FI,EI通常測定) 1 件 4,000
測定サポート料 1 件 1,000
Orbitrap 一般測定料(タンパク質同定) 1 件 50,000
X線回折装置(XRD) APEXII
ULTRA
APEXII基本利用料 1 hr 5,000
ULTRA基本利用料 1 hr 6,000
測定サポート料 1 件 50,000
依頼測定料 1 件 180,000
D8 ADVANCE 基本利用料 1 hr 4,000
依頼測定料   各上記3倍
測定サポート料 1 件 50,000
元素分析装置(EA) 依頼測定料(通常試料) 1 回 3,000
依頼測定料(特殊試料) 1 回 4,500
依頼測定料(通常試料、秤量依頼) 1 回 6,000
依頼測定料(特殊試料、秤量依頼) 1 回 9,000
ミクロ電子天びん 基本利用料(元素分析以外) 1 hr 300
グローブボックス 基本利用料(元素分析以外) 1 hr 1,500
電界放射型透過電子顕微鏡
(FE-TEM)
年間登録料 1 人・年 300,000
年間登録料(同一部署2人目以降) 1 人・年 100,000
基本利用料(年間登録必須) 1 day 40,000
低温測定利用料 1 day 60,000
測定サポート料 1 件 50,000
依頼測定料 1 day 200,000
走査型電子顕微鏡(SEM) 基本利用料 0.5 hr 1,500
EDS利用料 0.5 hr 2,500
長時間利用料(Cryo-SEM用)(24時間毎に) 24hr 18,000
顕微分光光度計 基本利用料 0.5 hr 2,000
蛍光寿命測定装置 基本利用料 0.5 hr 2,000
発光量子収率測定装置 基本利用料 0.5 hr 2,000
ゼータ電位・粒径測定装置 基本利用料 0.5 hr 1,500
固体表面測定料 0.5 hr 3,000
固体表面測定ライセンス試験料 1 回 15,000
顕微赤外分光光度計(顕微IR) 基本利用料 0.5 hr 2,000
紫外可視近赤外分光光度計 基本利用料 0.5 hr 1,000
金イオンコータ 基本利用料 1 hr 1,000
ソフトプラズマエッチング装置 基本利用料 1 hr 1,000
理学研究院
電子スピン共鳴装置(ESR) 基本利用料 0.5 hr 1,500
ベンチャービジネスラボラトリー
電界放射型走査電子顕微鏡
(FE-SEM)
基本利用料 0.5 hr 3,000
オスミウムコータ 基本利用料 1 hr 2,000
透過型電子顕微鏡
(TEM)
基本利用料 1 day 15,000
測定サポート料 1 件 25,000
使用取扱説明依頼料 1 回 150,000
※学外一般利用(企業等)の料金です。学内利用および学外学術利用(他大学)とは、利用できる機器や料金が異なりますので、ご注意下さい。 ※その他、詳細な料金規定については、各機器管理者にお問い合わせ下さい。