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最新情報

2016/10/24 【イベント】吸光・発光分析セミナーのお知らせ【終了しました】


吸光・発光分析セミナー


〜蛍光寿命測定と量子収率測定の基礎と実際〜

    

日  程:平成28年11月22日(火)14:00〜16:00

会  場:
千葉大学西千葉キャンパス附属図書館内 アカデミック・リンク・センター
     
I棟3Fセミナールーム1階
     コンテンツスタジオ〈きわみ〉
     (千葉市稲毛区弥生町1-33 JR西千葉駅下車徒歩10分)


参加費 :無料(テキスト有り)

参加対象:蛍光寿命測定または量子収率測定を利用している方・興味のある方(初心者含む)

定  員:30名(先着順)

講  師:株式会社堀場製作所 下島淳彦様

講  師:千葉大学大学院融合科学研究科 中村一希先生

内  容:(1)基礎から学ぶ蛍光寿命

     (2)蛍光寿命・量子収率測定の活用例
        〜何がわかるのか、研究にどう活用するのか?〜


上記セミナーの受講をご希望される方は、氏名・所属学部・学年または役職・メールアドレスを明記の上、
下記までメールにてお申込み下さい。


連絡先 :〒263-8522千葉市稲毛区弥生町1-33 千葉大学共用機器センター
       Tel: 043-290-3810 Fax: 043-290-3813

E-mail:cai-network★chiba-u.jp (★を@に変えてください)

申込締切:平成28年11月17日(木

詳しくはポスターをご覧ください。
2013/08/20 平成25年度 共用機器センター ゼータ電位・粒径測定システム講習会 【終了しました】

【終了しました】
講習会開催についてお知らせいたします。

平成25年度 共用機器センター ゼータ電位・粒径測定システム講習会
〜コロイド粒子の粒径測定と分散安定性・固体表面の評価〜


日時: 平成25年9月17日(火) 13:00〜16:00 (受付開始12:45〜)
会場: 西千葉キャンパス アカデミック・リンク・センター
      (附属図書館I棟) 1階コンテンツスタジオ「ひかり」
講師: 大塚電子株式会社 粒子物性開発部 橋田 紳乃介 様 

参加費: 無料(テキスト有り)


参加要件: ゼータ電位・粒径測定システムの使用者や興味がある学内の教職員・学生
定員: 60名(先着順)

参加申込: 氏名、所属学部、学年又は役職、メールアドレスを明記の上、下記宛てメールにてお申込み下さい。
申込締切: 9月8日(日)24:00受信分まで有効
申込・問合先: 千葉大学共用機器センター   
TEL: 043-290-3810、内線3810
E-mail: cai-network★chiba-u.jp (★を@に変えてください)

主催: 共用機器センター(設備サポート事業)

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装置の紹介

JASCO, MSV-370

1)顕微分光光度計の概要
 顕微分光では、様々な波長の光(電磁波)を試料の微小領域に照射し、その吸収スペクトルを測定することによって、試料の同定や物性評価を行います。
 MSV-370は、カセグレイン方式の集光鏡・対物鏡を採用することにより、主に固体試料に対して 190〜2500 nm までの紫外−可視−近赤外の広範囲な波長領域で連続的に透過法または反射法を用いた分光測定ができます。顕微鏡にはCCDカメラが内蔵されており、PC画面を見ながら測定位置を決定します。また、10 μm×10 μm 以上のアパーチャ設定やマッピング測定も可能です。
装置名 装置の特徴
日本分光, MSV-370 光源:重水素ランプ・WIランプ、測定波長範囲:190〜2500 nm、最小測定領域:10 μm×10 μm、透過測定・反射測定の切り替え可能

JASCO, V-670DS

2)紫外可視近赤外分光光度計の概要
 紫外−可視−近赤外領域の電磁波は、分子内の電子遷移に相当するエネルギーを有しています。1)の顕微分光光度計と同様に、この広範囲な波長領域の吸収スペクトルを測定することによって、化合物の定性定量分析や光学物性の評価を行います。
 V-670DSは、1)のように顕微鏡が付属していない汎用的な機器ですが、より広い測定波長範囲とより高い波長繰り返し精度を有しており、主に液体試料に対して 190〜2700 nm までの広範囲な波長領域で透過法を用いた分光測定ができます。
装置名 装置の特徴
日本分光, V-670DS 光源:重水素ランプ・WIランプ、光学系:ツェルニターナマウントシングルモノクロメータダブルビーム方式、測定波長範囲:190〜2700 nm

JASCO, FT/IR4200

3)フーリエ変換赤外分光光度計(Fourier Transform Infrared Spectrometer, FT-IR)の概要
 赤外領域の分光測定を行って、得られた結合の振動エネルギーに関する情報から分子構造を推定します。有機材料は全て赤外領域に固有の吸収スペクトルを有しているので、有機材料の官能基分析などに広く利用されています。
 FT/IR-4200STは、プレスキャン時に最適な測定条件を素早く探索することができるため、目的試料の高感度・高精度のデータを簡単に得ることが可能です。
装置名 装置の特徴
日本分光, FT/IR-4200ST 光源:高輝度セラミックス光源、測定波数範囲:7800〜350 cm-1、分解能:0.5 cm-1

IBH 5000U

4)蛍光寿命測定装置の概要
 光(電磁波)を吸収した物質が、エネルギーの高い状態(励起状態)から元の状態(基底状態)に戻る時に放出する光を蛍光と呼びます。蛍光強度は時間と共に変化します。この時間による蛍光強度の変化を測定することで、分子構造や特性、試料中の分子の環境などの情報を得ることができます。
 5000Uは、280または370 nmの波長で時間分解能約1 nsの励起パルス光を照射し、185〜650nmにおいて単一光子計数法による蛍光減衰過程の分析が可能です。
装置名 装置の特徴
IBH 5000U

・半導体パルス光源波長:280、370 nm。検出器:185〜650 nm

・測定可能寿命範囲:サブナノ秒〜ミリ秒


大塚電子, ELSZ-1000ZSCK

5)ゼータ電位・粒径測定装置の概要
 最先端の研究開発分野では、ナノ粒子やナノ表面を活用することで飛躍的な性能改善や新機能の付加が実現しているため、粒径管理・表面改質・分散凝集制御などの評価がますます重要になってきています。
 ELSZ-1000ZSCKは、ナノ粒子を液体中に分散させたコロイド溶液もしくは低電導性の平板状固体表面を測定に用い、試料の分散・凝集性・相互作用・表面改質の指標となる粒径・粒径分布やゼータ電位を動的および電気泳動光散乱法で測定できます。
装置名 装置の特徴
大塚電子, ELSZ-1000ZSCK レーザー光源波長:660 nm、測定範囲:粒径 0.6 nm〜10 μm、ゼータ電位 −200 mV〜200 mV、濃度範囲:0.001〜40 %、測定可能最大寸法(固体表面ゼータ電位):37 mm × 17 mm × 5 mm

浜松ホトニクス, Quantaurus-QY

6)発光量子収率測定装置の概要
 発光量子収率とは、物質が吸収した光子のうち、発光(蛍光あるいはリン光)として放出される光子の割合を表すものです。量子収率が高いほど発光効率が良く、発光強度が強いことになります。絶対発光量子収率測定では、積分球を用い発光の全光束を検出します。
 Quantaurus-QY C11347-01は、絶対発光量子収率のほか量子収率の励起波長依存性、発光の色度も測定可能です。また、測定試料は液体、固体のいずれにも対応しています。
装置名 装置の特徴
浜松ホトニクス, Quantaurus-QY C11347-01 励起波長:250〜850 nm、PL計測波長:300〜950 nm、波長分解能:2 nm以下

JEOL, JES-TE200

7)電子スピン共鳴装置(Electron Spin Resonance, ESR)の概要
 遷移金属イオンや有機フリーラジカルなどの不対電子スピンを有する試料に磁場中でマイクロ波を照射し、マイクロ波の吸収による不対電子スピンの高エネルギー準位への遷移(共鳴現象)を観測することができます。反応経路の追跡や格子欠陥の評価、標識化合物の検出などに利用されています。
 JES-TE200は、従来の構成が拡張されており、本体の制御と測定データの取り込み・解析、ESRスペクトルのシミュレーションをパソコン上で行えます。なお、本装置は理学研究院の分子化学研究室に設置されている共同利用装置です
装置名 装置の特徴
JEOL, JES-TE200 ガンダイオード発振器:基準周波数 8.800 〜 9.600 MHz、磁場可変範囲:残留磁場 〜 1,300 mT、感度 7×109 / 0.1 mT、分解能 ≧ 2.35 μT

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ライセンス

現在、それぞれの装置に対して以下のようなライセンスを発行しています。

1)顕微分光測定ライセンス

利用者が、MSV-370を用いて顕微分光測定を行うためのライセンスです。

2)紫外可視近赤外分光測定ライセンス

利用者が、V-670DSを用いて紫外可視近赤外分光測定を行うためのライセンスです。

3)赤外分光測定ライセンス

利用者が、FT/IR-4200STを用いて赤外分光測定を行うためのライセンスです。

4)蛍光寿命測定装置測定ライセンス

利用者が、5000Uを用いて蛍光寿命測定を行うためのライセンスです。

5)ゼータ電位・粒径測定ライセンス

利用者が、ELSZ-1000ZSCKを用いてゼータ電位・粒径測定を行うためのライセンスです。基本ライセンスである「粒径」測定ライセンスと上級ライセンスである「コロイド粒子ゼータ電位」測定ライセンスおよび「固体表面ゼータ電位」測定ライセンスの計3種類があります。

6)発光量子収率測定ライセンス

利用者が、Quantaurus-QY C11347-01を用いて発光量子収率測定を行うためのライセンスです。

7)ESR測定ライセンス

利用者が、JES-TE200を用いてESR測定を行うためのライセンスです。

※ライセンス取得に関する詳細は、共用機器センターにご相談下さい。

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