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2014/08/20 【イベント】千葉大学共用機器センターセミナー開催のお知らせ【終了しました】


千葉大学共用機器センターセミナー
〜第2回 単結晶・粉末X線回折の基礎と応用〜

日時:10月1日(水)10:00〜17:00
会場:千葉大学西千葉キャンパス附属図書館内 アカデミックリンクセンター

会場:1階コンテンツスタジオ〈ひかり〉 (JR西千葉駅下車徒歩10分)


〔講演〕 10:00〜 (受付:9:30〜)
『単結晶X線構造解析の基礎と実際』 与座健治(ブルカー・エイエックスエス(株))
『多孔性錯体を用いる油状医薬品等非結晶性分子の構造解析』 山口健太郎(徳島文理大学香川薬学部)
『基礎から学ぶX線回折・ここまでできるX線回折』 長尾圭悟((株)リガク)
『粉末X線回折測定を用いた結晶形態の評価』 米持悦生(星薬科大学大医薬品化学研究所)
 
 パネルディスカッションおよび質疑応答
 
〔情報交換会〕 17:00〜
 千葉大学内レストラン コルザにて  会費:3,000円(学生:1,000円)
 *要事前登録。但し、20名に達しない場合は中止になりますのでご了承下さい。

参加費空空空: 一般:5,000円/大学・研究機関:1,000円/学生:無料
定員空空空空: 80名
参加申込空空: 氏名・所属(学生は学年)・住所・連絡先(Tel、Fax、E-mail)、
(事前登録) 空空情報交換会参加の有無を明記の上、E-mail又はFaxで下記までご連絡下さい。


連絡先空空空: 〒263-8522千葉市稲毛区弥生町1-33 千葉大学共用機器センター
空空空空空空: Tel: 043-290-3810 Fax: 043-290-3813 E-mail:cai-network★chiba-u.jp (★を@に変えてください)
申込締切空空: 平成26年9月19日(金)

2012/07/31 【イベント】X線講習会のお知らせ 【終了しました】

X線講習会のお知らせ 【終了しました】
単結晶X線解析装置および粉末X線装置の初心者向け講習会を行います。



【日にち】 8月7日(火)、9日(木)
【会 場】 千葉大学分析センター2階講義室

【参加費】 無料
【定 員】  30名(1日のみの参加も可能) 
主催:千葉大学分析センター(設備サポート事業)
共催:Bruker AXS
****************************************************************************
 パート1 粉末X線回折の基礎
  【日時】 8月7日(火)午後1時〜5時(予定)
  【講師】 BrukerAXS担当者
  【内容】 粉末X線回折のデータ処理の基礎粉末パターンからの構造解析(格子定数、空間群決定など)
 パート2 単結晶X線構造解析の基礎
  【日時】 8月9日(木)午前10時〜午後5時(予定)
  【講師】 BrukerAXS担当者、分析センタースタッフ
  【内容】 単結晶X線測定および解析の基本手順基礎知識(「逆空間」「対称性」「空間群」等)の講義
       結晶の扱い方に関する実技 など
****************************************************************************

【参加申込】 氏名、所属学部、学年又は役職、メールアドレス、参加希望パート(パート1、パート2、両方)
        を明記の上、下記までメールにてお申込み下さい。
        分析センター E-mail:cai-network★chiba-u.jp (★を@に変えてください)
【申込締切】 7月31日(火)

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装置の紹介

1)X線解析(X-ray Analysis)でわかること
電磁波の一種であるX線は、様々な分析手段に使われています。当センターでは、X線の回折(X-Ray Diffraction, XRD)を利用した「単結晶X線構造解析」と「粉末X線回折」の2つが主に利用できます。
単結晶X線構造解析は、単結晶にX線を照射し、その回折像から結晶内で配列した原子(分子)の三次元的な配置を決定することができます。分子の立体構造を直接的に決定できる非常に強力な構造解析法であり、無機物や有機低分子だけでなく、タンパク質のような巨大分子の構造決定も可能になっています。
粉末X線回折は、粉末状試料にX線を照射し、その回折像を観測します。回折パターンの比較によって、化合物の同定や、不純物の定量、原子(分子)配列の変化の観測などが可能です。結晶性試料だけでなく、非晶質や液晶性試料の測定も可能なので、無機、有機に限らず幅広い試料の物性観測に利用されています。
2)装置の仕組み
X線解析装置は、主に以下の3つで構成されています。
  • ・X線源:X線を発生させて試料に照射する。使用する素材によってX線の波長が異なる。
  • ・検出器:回折X線を測定する。計数管やCCDが用いられる。
  • ・ゴニオメーター:X線源・試料・検出器の相対角度を回転させる装置。
X線強度と検出器感度が向上するほど、より微少な試料の測定が可能になります。
3)装置の種類と特徴

X線解析室では、以下の3台の装置が稼働しています。

装置名 種類 装置の特徴
Bruker, Smart APEXII 単結晶 Mo管球、CCD、通常測定用、低温(〜-183℃)測定可能
Bruker, Smart ApexII ULTRA 単結晶 Cuローター、CCD、微小結晶用、低温(〜-183℃)測定可能
Bruker, D8 ADVANCE 粉末 Cu管球、計数管、汎用粉末測定、中低温(+450〜-193℃)測定可能

また結晶観察用の実体偏光顕微鏡が2台設置されています。

  • Bruker SMART APEX II

    Bruker SMART APEX II
  • Bruker SMART APEX II ULTRA

    Bruker SMART APEX II ULTRA
  • Bruker D8 ADVANCE

    Bruker D8 ADVANCE

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ライセンス

現在、X線解析室で発行しているライセンスは以下の通りです。

1)単結晶X線基本ライセンス
利用者が、APEXIIを用いてルーチン的な単結晶X線測定を行うためのライセンスです。試料の取りつけからデータ解析までを行います。測定条件のマニュアル設定やULTRAを用いた測定は、原則として許可されません。
2)単結晶X線上級ライセンス

利用者が、マニュアルでの測定条件設定およびULTRAを用いた測定を行うためのライセンスです。基本ライセンスを取得した人に、取得資格があります。

3)粉末X線測定ライセンス
利用者がD8 ADVANCEを用いて粉末X線測定を行うためのライセンスです。
測定時のオプションは、その都度、機器管理責任者の指導を受けて使用します。

※ライセンス取得に関する詳細は、共用機器センターにご相談下さい。

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マニュアル

マニュアルのダウンロード(準備中)

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